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西克SICK激光测距传感器SOC-1A100403K
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产品参数说明
特性规格：
产品量程从600微米到12毫米
光谱共焦法原理传感器带来高精度和高可靠性
极高的测量频率，达4,000 Hz
广泛适用于各种材料和颜色被测物的高精度稳定测量
一个测量头即可以精确测量极薄透明薄膜的厚度
最小4微米的极小光点，可以测量非常小的被测物
最高5.5纳米的分辨率
一台控制器同时连接一个测量头工作
测距，透明测厚和干涉法测厚三种测量工作模式
免费操作软件，使用方便
应用领域：
高精度识别测量：比如汽车行业发动机和变速箱等核心部件的尺寸测量，机床行业的高精度加工件测量
薄膜厚度测量：比如吹膜机膜厚监控，流延膜厚监控
精密制造及组装行业：比如轴承钢珠外形监控，细孔深度测量
电子及太阳能：半导体硅片表面物相监控
电子及太阳能：电路板质量监控，高精度IC针脚监控，比如硬盘制造，消费电子产品组装质量监控
透明玻璃厚度检测：比如显示屏玻璃平面度及厚度测量，镜头或镜片镀膜厚度检测客户受益：
得益于传感器纳米级的高精度和4K的测量频率，可以高速高精度的检测各种物体
极高的精度和极大的允许倾斜角度，让现场使用非常灵活，节省成本
单头测量透明物体厚度，为高精度透明物体测量提供高性价比方案
得益于其极小的光斑，该传感器可以用来测量极小的被测物，比如IC针脚，或者极小的孔深，而这些原来的接触式或者三角测量法传感器都无法实现，为客户的测量提供新的可能方案。
非接触性式，无需特殊安装设备及免示教的测量技术，为客户节省安装调试及后期维护时间，节省成本。
随机附带的操作软件，为客户节省时间和成本说明：西克(SICK)激光测距传感器FOC03-AM1K是由德国西克(sick)智能传感器专家生产的激光测距传感器，并授权我公司销售，我们可以为您提供完整FOC03-AM1K规格参数、使用说明书、选型资料、安装图纸、接线表、安装技术指导、报价等，我们承诺我们售出的西克(SICK)激光测距传感器FOC03-AM1K均是原装正品，请放心采购！如果页面中的参数与您需要的有出入，请联系客服咨询！
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